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產品名稱：安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀
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產品廠商：其它品牌
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簡單介紹：

安鉑高精度涂層測厚儀UEE920/921/922能快速、無損傷、**地進行涂、鍍層的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。通過適用不同的測頭，還可滿足多種測量需要。本儀器**地用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護**必備的儀器。本儀器符合以下標準：GB/T 4956-1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量，磁性方法；GB/T 4957-1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量，渦流方法。JB/T 8393-1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889-95《磁阻法測厚儀》 JJG818-93《電渦流式測厚儀》，安鉑高精度涂層測厚儀UEE920/921/922質保6年，品質保證。

詳情介紹：

安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀的詳細介紹

安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀能快速、無損傷、**地進行涂、鍍層的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。通過適用不同的測頭，還可滿足多種測量需要。本儀器**地用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護**必備的儀器。本儀器符合以下標準：GB/T 4956-1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量，磁性方法；GB/T 4957-1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量，渦流方法。JB/T 8393-1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889-95《磁阻法測厚儀》 JJG818-93《電渦流式測厚儀》

安鉑高精度涂層測厚儀UEE920/921/922技術參數

型號		Uee®920	Uee®921	Uee®922
測頭類型		F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1
工作原理		磁感應或電渦流
測量范圍		探頭決定（標配探頭F1或N1 0~1250μm)
低限分辨率		0.1μm
示值誤差	一點校準	探頭決定，標配探頭±（3%H+1）
	二點校準	探頭決定，標配探頭±[（1~3%)H+1]
統計功能		平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式		連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
存儲		1560個測量值
PC通訊功能		有
屏顯		黑白	彩屏	黑白
外殼		塑殼		鎂鋁合金
測試條件	*小曲率半徑mm	凸1.5、凹9
	*小面積直徑mm	Φ7
	基本臨界厚度mm	0.5
工作環境	溫度	0~40℃
	濕度	20%~90%
電源		2*1.5V			2*1.5V
外形尺寸		1637833			1307030
重量		200g			300g
標準配置		主機、標準試片、基體、2節5號電池，文件資料，儀器箱，USB通訊軟件
選配		多種探頭

安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀功能特點：

● 全中文菜單界面操作，簡單方便；

● 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和

硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基

體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。
● 可使用7 種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
● 具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

● 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
● 設有五個統計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數（NO．）、

標準偏差（S．DEV）；
●多種校準方式：可采用一試片校準和兩試片校準方法對儀器進行校準，并可用五試片校準對儀器的系統誤差進行修正；
● 具有存儲功能：可存儲4類工件，每類工件26組，每組15個測量值，共1560個測量值；
● 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
● 設置限界：對限界外的測量值能自動報警；

● 具有與PC 機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC 機，以便對數據進行進一步處理；

● 操作過程有蜂鳴聲提示；

● 有高亮LED背光顯示，方便在光線灰暗環境使用。
● 設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式

安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀測量原理

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性涂蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電涂蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F型測頭)

當測頭與涂蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性涂蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出涂蓋層的厚度。

b) 渦流法(N型測頭)

利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與涂蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出涂蓋層的厚度。

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產品名稱：安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀

安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀的詳細介紹

安鉑UEE920/921/922高精度涂層測厚儀測量原理